LECO GDS900 および GDS950 分光計

LECO GDS950 グロー放電分光計アナリストがLECO GDS900のサンプルを読み込んでいますholding a glow discharge spectrometer sampleglow discharge spectrometer lamp

概要

LECO GDS900 グロー放電分光分析装置は、日常的な金属試験や表面特性評価において、迅速かつ正確な元素分析を実現します。鋳造所、金属メーカー、品質管理研究所向けに設計されており、信頼性の高い全元素組成分析に加え、亜鉛めっきやその他の金属処理などの用途を含む、コーティングおよび表面層の評価も可能です。 高度なグロー放電技術と高分解能CCD検出器により、幅広い金属材料に対して、優れた再現性を備えた迅速な分析結果を実現します。.

より高い分析の柔軟性が求められる研究室向けに、LECO GDS950 グロー放電分光計は、分光分解能の向上、より広範な元素分析範囲、および高度なアプリケーションサポートにより、その機能を拡張します。 デュアルDC/RF光源を搭載しているため、コーティング、セラミックス、ガラス、複雑な多層構造など、導電性および非導電性の材料の両方の分析が可能です。包括的な深さプロファイリングおよび表面から基板までの特性評価機能と組み合わせることで、GDS950は、高度な研究、開発、および先端材料用途に向けた強力なソリューションを提供します。.


LECO GDSシリーズを選ぶ理由

Glow Discharge sample closeup example of sputtered surface

金属における真のバルク精度

GDS900およびGDS950は、グロー放電技術により、材料の除去(スパッタリング)と元素の励起を分離された制御されたプロセスで行うことで、高精度なバルク元素分析を実現します。この独自のアプローチにより、従来の火花OES測定に影響を与え得る組織、結晶粒界、介在物、その他の冶金学的履歴の影響を最小限に抑えます。その結果、局所的な冶金学的特徴ではなく、材料そのものをより正確に反映したバルク組成が得られます。.

analyst loading sample into glow discharge spectrometer

簡単なセットアップ、より大きな安心感

グロー放電は、幅広い材質においてスペクトル干渉が少なく、クリーンで高分解能なスペクトルを生成します。種類ごとの標準化が不要になることでメソッドのセットアップが簡素化され、未知の合金のより確実な分析が可能になるため、研究室は材質のグレードを事前に特定することなく、正確な結果を得ることができます。.

glow discharge spectrometer operation rendering

もっと分析し、もっと見極める

高度なCCDアレイ検出器により、全発光スペクトルを同時に捉えることが可能となり、各元素や用途に最適な分析線を選択できる柔軟性が提供されます。その結果、幅広い材料、濃度、合金組成にわたる高精度な元素分析を実現し、ルーチンサンプルから困難なサンプルまで自信を持って対応できます。.

glow discharge spectrometer lamp

比類なき汎用性

デュアルモードDC/RFランプ(GDS950)は、金属にとどまらず、コーティング、ガラス、セラミックなどの非導電性材料へと対応範囲を広げます。ソフトウェア上でモードを切り替えることができ、ハードウェアの変更は不要です。これにより、簡単なデプスプロファイリングと高度な表面分析を実現します。.



コア分析


アプリケーションノート


グロー放電発光分光分析装置の仕組み

グロー放電発光分光法(GDS)は、固体試料の迅速な元素分析に使用される、高性能な発光分光法(OES)の一種です。このプロセスは、平らな試料をグロー放電光源にセットすることから始まります。光源内を真空にした後、アルゴンを再充填し、電場を印加して安定した自己持続プラズマを生成します。

このプラズマ中では、アルゴンイオンがサンプル表面に向かって加速されます。陰極スパッタリングと呼ばれるプロセスを通じて、これらのイオンは表面の原子をプラズマ中に放出させ、そこで高エネルギー電子と衝突して電気的に励起されます。これらの原子が元の状態に戻る際、特定の波長の光子を放出し、これが発光分光分析において特定の元素を特定するために使用される「分光化学的シグネチャー」となります。

高分解能分光器はCCDアレイを使用してこれらのOES信号を記録します。光の強度は原子の濃度に比例するため、システムは既知の標準物質で校正することにより、サンプルの化学組成を精密に定量化することができます。

GD-OESの主な利点は、組成深度プロファイル(CDP)を生成できる点にあります。 プラズマが材料のより深い部分までスパッタリングを進めていくにつれて発光信号を連続的に測定することで、GDSは1回の測定で材料全体の組成を独自に検証します。これにより、外部の表面処理(コーティング)と、その下にある内部の「バルク」合金の両方の詳細なマップが得られるため、材料の検証に欠かせないツールとなっています。 


楽器の詳細

特徴

真の全岩組成
材料の元素組成を、一部の対象元素だけでなく、全体として分析します。グロー放電技術を用いることで、材料全体をより的確に反映した分析結果が得られます。.
表面・基板キャラクタリゼーション
1回の分析で表面層と下地基材の両方の組成を測定し、コーティング、処理、および材料の遷移についての理解を深めます。.
迅速な元素分析
数分で包括的な元素データ生成。迅速な分析により、製造、品質管理、研究環境におけるより迅速な意思決定をサポートします。.
冶金学的履歴効果の低減
独立したスパッタリングと励起により、結晶構造や組織の変動の影響を最小限に抑えることができます。これにより、幅広い金属や合金において、より代表性の高い元素分析結果が得られます。.
未知材料の簡易分析
合金種の標準化を行わなくても、幅広い種類の合金を分析できます。これにより、入荷材料、スクラップ、または未知の試料を試験する際の信頼性が高まります。.
フルスペクトル検出
同時分光測定により、利用可能なすべての分析線を利用できるようになります。さまざまなアプリケーションで精度を向上させるため、最適な波長を選択してください。.
合金種を問わない高精度な分析
広範なスペクトルカバレッジにより、異なる組成や材料グレードにわたって分析精度を維持できます。1つのシステムで、多様な材料や用途に対応します。.
詳細な被膜評価
1台の機器でコーティングの組成、膜厚、均一性を評価。製造プロセスの検証と製品品質の確保を実現します。.

モデル

GDS900 – 直流(DC)のみ、バルク/バルク&CDPの選択可能、拡張分光計、ロータリーベーン/ルーツポンプ
GDS950 – DC/DC & RFの選択、バルク/バルクおよびCDP、拡張分光器、ロータリーベーン/ルーツポンプ

モデル比較

機能 / 性能
GDS900
GDS950
主な用途
日常的な全元素分析およびコーティング特性評価
高度なバルク、表面、深さ方向のプロファイル分析
アイデアル・インダストリーズ
鋳造所、金属メーカー、品質管理研究所
研究室、先端材料、コーティング、航空宇宙、特殊金属
サンプルタイプ
Solid conductive materials
Solid conductive and non-conductive materials
Supported Analyses
Bulk elemental and optional compositional depth profiling
Bulk elemental and optional compositional depth profiling
Electrical Source
Direct Current (DC) Glow Discharge
Dual Direct Current (DC) and Radio Frequency (RF) Glow Discharge
Advanced Methodology
該当なし
Pulsed RF, and mixed plasma gas analysis support
Optical Environment
Purged – Argon
Purged – Argon
Spot/Seal Sizes Supported
4/14 mm standard, optional 2/14 mm, and 2/9 mm
4/14 mm standard, optional 2/14 mm, and 2/9 mm
Maximum Sample Size
8” Diameter x 1.5” Thick (20.32 x 3.81 cm)
8” Diameter x 1.5” Thick (20.32 x 3.81 cm)
Spectral Resolution
0.050 nm FWHM; 0.2 nm optional extension spectrometer
0.030 nm FWHM; 0.2 nm optional extension spectrometer
Wavelength Range
160–460 nm Complete Coverage; 460–850 nm with optional extension spectrometer
120–460 nm Complete Coverage; 460–850 nm with optional extension spectrometer
CCD Array Detection
Primary: 8 CCDs – 16,000 Pixels Optional Extension: 2 CCDs – 4,000 Pixels
Primary: 16 CCDs – 32,000 Pixels Optional Extension: 2 CCDs – 4,000 Pixels
Best Fit
Production and routine quality control laboratory testing
Research, development, failure analysis, and complex materials characterization

オプション

Dual-mode DC/RF lamp
Compositional Depth Profiling
Extension Spectrometer (analyze wavelengths between 460–850 nm)
Rotary Vane Pump
Roots Pump (for labs where oil vapor is incompatible)
Noise Abatement Enclosure for vacuum pump
Integrated Desk
PC/Monitor Cart

適用可能な方法

LECO Glow Discharge Spectrometers adhere to これらの承認された方法.

  • ASTM E2994 Analysis of Titanium and Titanium Alloys by Glow Discharge Atomic Emission Spectrometry 
  • ISO 19272 Low alloyed steel – Glow discharge optical emission spectrometry
  • ISO 11505 General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry 
  • ISO 14707 Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES)
  • ISO 16962 Analysis of zinc- and/or aluminum-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
  • ISO 25138 Analysis of metal oxide films by glow discharge optical emission spectrometry 

楽器サポート

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イベント

ウェビナー、ショーケース、カンファレンス、トレードショー



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